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ICE Asia 2014明日盛大開幕，決不容錯(cuò)過！

2014-09-16 10:05 來源：cpp114 責(zé)編：徐赳赳

摘要：: ICEAsia2014第四屆國際紙品膠片薄膜加工印刷技術(shù)、設(shè)備及材料博覽會(huì)將于明日盛大開幕，展會(huì)持續(xù)三天（9月17日至9月19日），屆時(shí)將有來自涂布、復(fù)合、分切、復(fù)卷和凹柔版印刷技術(shù)領(lǐng)域的頂尖展商展示他們的得意之作。

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【CPP114】訊：ICE Asia 2014第四屆國際紙品膠片薄膜加工印刷技術(shù)、設(shè)備及材料博覽會(huì)將于明日盛大開幕，展會(huì)持續(xù)三天（9月17日至9月19日），屆時(shí)將有來自涂布、復(fù)合、分切、復(fù)卷和凹柔版印刷技術(shù)領(lǐng)域的頂尖展商展示他們的得意之作。

本屆ICE Asia 2014，展商Sensory Analytics將會(huì)第一次帶來革新的Spec Metrix涂布測(cè)厚、涂料側(cè)重系統(tǒng)。Spec Metrix系統(tǒng)包括在線薄膜、涂層厚度檢測(cè)；Spec Metrix實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)可以針對(duì)實(shí)驗(yàn)樣本和終端產(chǎn)品做非接觸式的實(shí)時(shí)測(cè)厚監(jiān)控。與多數(shù)的光學(xué)檢測(cè)設(shè)備不同，spec Metrix系統(tǒng)的處理對(duì)象不但可以針對(duì)透明產(chǎn)品，對(duì)非透明產(chǎn)品也同樣適用，其涂層檢測(cè)厚度范圍為200納米至250微米。Spec Metrix系統(tǒng)旨在為客戶提供高效精準(zhǔn)的實(shí)時(shí)檢測(cè)數(shù)據(jù)，該系統(tǒng)的檢測(cè)部不使用放射性射線和X射線，從而免去了客戶額外的行政監(jiān)管成本及負(fù)擔(dān)。

與此同時(shí)，展會(huì)現(xiàn)場(chǎng)的買家見面會(huì)和上海有機(jī)及印刷電子論壇，將有數(shù)十場(chǎng)精彩演講輪番上演。包括KROENERT帶來“印刷或涂布——印刷電子技術(shù)的何去何從？”；九州浩德“帶來涂布技術(shù)簡(jiǎn)介”；申克博士帶來“最佳投資回報(bào)和零缺陷的視覺檢測(cè)系統(tǒng)”；汕頭華鷹帶來“功能性涂層加工設(shè)備——設(shè)備功能化、部件模塊化、核心技術(shù)差異化”；博斯特帶來“印刷電子領(lǐng)域薄膜的網(wǎng)版處理及控制”等等，歡迎您蒞臨現(xiàn)場(chǎng)。

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